HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ウルツ鉱型半導体薄膜の極性判定とその制御大橋 直樹, ウィリアムズ ジェシー ロバート, 安達 裕, 吉川 英樹, 山下 良之, 上田 茂典, 大垣 武, 坂口 勲, 菱田 俊一, 小林 啓介. 日本金属学会2011年度秋期講演大会. 2011.NIMS著者大橋 直樹安達 裕吉川 英樹山下 良之上田 茂典大垣 武坂口 勲菱田 俊一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 10:58:29 +0900 更新時刻 :2017-07-10 21:12:09 +0900