HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ウルツ鉱型半導体薄膜の極性判定とその制御大橋 直樹, ウィリアムズ ジェシー ロバート, 安達 裕, 吉川 英樹, 山下 良之, 上田 茂典, 大垣 武, 坂口 勲, 菱田 俊一, 小林 啓介. 日本金属学会2011年度秋期講演大会. 2011年11月07日-2011年11月09日.NIMS著者大橋 直樹安達 裕吉川 英樹山下 良之上田 茂典大垣 武坂口 勲菱田 俊一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:58:29 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:12:09 +0900
