HOME > 口頭発表 > 書誌詳細シリコンナノワイヤへの不純物ドーピングと欠陥評価(Impurity doping and defects in silicon nanowires)深田 直樹, 瀬岡雅典, 齋藤直之, 陳 君, 関口 隆史, 村上浩一. 第18回 格子欠陥フォーラム. 2008. 招待講演NIMS著者深田 直樹陳 君Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:18:26 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:42:04 +0900