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著者名深田 直樹, 瀬岡雅典, 齋藤直之, 陳 君, 関口 隆史, 村上浩一.
タイトルシリコンナノワイヤへの不純物ドーピングと欠陥評価
(Impurity doping and defects in silicon nanowires)
会議名第18回 格子欠陥フォーラム
発表年2008
言語Japanese
外部での文献参照

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