HOME > Presentation > Detailシリコンナノワイヤへの不純物ドーピングと欠陥評価(Impurity doping and defects in silicon nanowires)深田 直樹, 瀬岡雅典, 齋藤直之, 陳 君, 関口 隆史, 村上浩一. 第18回 格子欠陥フォーラム. 2008. InvitedNIMS author(s)FUKATA, NaokiCHEN, JunFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:18:26 +0900Updated at: 2024-03-05 11:42:04 +0900