HOME > 口頭発表 > 書誌詳細バイアス印加硬X線光電子分光法によるゲートスタック構造内 のポテンシャル分布の直接観測山下 良之, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 小林啓介. 第33回日本表面科学学術講演会. 2013.NIMS著者山下 良之吉川 英樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:05:13 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:45:56 +0900
