HOME > Presentation > Detailバイアス印加硬X線光電子分光法によるゲートスタック構造内 のポテンシャル分布の直接観測山下 良之, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 小林啓介. 第33回日本表面科学学術講演会. 2013.NIMS author(s)YAMASHITA, YoshiyukiYOSHIKAWA, HidekiCHIKYO, ToyohiroFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-02-14 11:05:13 +0900Updated at: 2017-07-10 21:45:56 +0900