HOME > 口頭発表 > 書誌詳細電子線誘起電流法によるGaN Schottky領域の転位と電流リーク箇所の観察(EBIC Investigation of Dislocations and Leakage Sites in GaN Schottky Diode)陳 君, イ ウェイ, 関口 隆史, 生田目 俊秀, 江戸雅晴. 第65回応用物理学会春季学術講演会. 2018.NIMS著者陳 君イ ウェイ生田目 俊秀Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2018-03-15 22:37:43 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:19:03 +0900