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著者名陳 君, イ ウェイ, 関口 隆史, 生田目 俊秀, 江戸雅晴.
タイトル電子線誘起電流法によるGaN Schottky領域の転位と電流リーク箇所の観察
(EBIC Investigation of Dislocations and Leakage Sites in GaN Schottky Diode)
会議名第65回応用物理学会春季学術講演会
発表年2018
言語Japanese
外部での文献参照

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