HOME > 口頭発表 > 書誌詳細硬X線光電子分光法によるゲートスタック構造内のポテンシャル分布の直接観測(Potential distribution in a gate-stack structure obtained from hard x-ray photoelectron spectroscopy)山下 良之, 大毛利健治, 吉川 英樹, 小林 啓介, 知京 豊裕. 日本物理学会第63会年次大会. 2008.NIMS著者山下 良之吉川 英樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:06:41 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:07:02 +0900