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著者名山下 良之, 大毛利健治, 吉川 英樹, 小林 啓介, 知京 豊裕.
タイトル硬X線光電子分光法によるゲートスタック構造内のポテンシャル分布の直接観測
(Potential distribution in a gate-stack structure obtained from hard x-ray photoelectron spectroscopy)
会議名日本物理学会第63会年次大会
発表年2008
言語Japanese
外部での文献参照

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