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硬X線光電子分光法によるゲートスタック構造内のポテンシャル分布の直接観測
(Potential distribution in a gate-stack structure obtained from hard x-ray photoelectron spectroscopy)

山下 良之, 大毛利健治, 吉川 英樹, 小林 啓介, 知京 豊裕.
日本物理学会第63会年次大会. 2008.

NIMS author(s)


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    Created at :2017-02-14 11:06:41 +0900 Updated at :2017-07-10 20:07:02 +0900

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