HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Impact of ALD-ZrO2 nucleation layers on leakage current properties and dielectric constant of ferroelectric HfxZr1−xO2-thin filmsONAYA, Takashi, NABATAME, Toshihide, TSUKAGOSHI, Kazuhito, Koji Kita. 36th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC 2023). 2023年11月14日-2023年11月17日.NIMS著者生田目 俊秀塚越 一仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2024-01-09 03:10:46 +0900更新時刻: 2024-01-09 03:10:46 +0900