HOME > 口頭発表 > 書誌詳細ステージスキャンとナノサイズ制限視野絞りによる 格子定数測定の精度評価(Lattice constant measurement obtained by nano-size SA aperture and stage scan system)三石 和貴, ベカレビッチ ラマン, 大西 剛, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 稲熊 宜之, 大野 隆央, 高田 和典. 第73回日本顕微鏡学会学術講演会. 2017.NIMS著者三石 和貴大西 剛上杉 文彦竹口 雅樹高田 和典Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-06-02 22:18:45 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:09:25 +0900