HOME > Presentation > Detailステージスキャンとナノサイズ制限視野絞りによる 格子定数測定の精度評価(Lattice constant measurement obtained by nano-size SA aperture and stage scan system)三石 和貴, ベカレビッチ ラマン, 大西 剛, 上杉 文彦, 竹口 雅樹, 稲熊 宜之, 大野 隆央, 高田 和典. 第73回日本顕微鏡学会学術講演会. 2017.NIMS author(s)MITSUISHI, KazutakaOHNISHI, TsuyoshiUESUGI, FumihikoTAKEGUCHI, MasakiTAKADA, KazunoriFulltext and dataset(s) on Materials Data Repository (MDR)Created at: 2017-06-02 22:18:45 +0900Updated at: 2018-06-05 14:09:25 +0900