HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Direct observation of electronic states in gate stack structures: XPS under device operation)山下 良之, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 小林 啓介. 19th International Vacuum Congress IVC-19. 2013年09月09日-2013年09月13日.NIMS著者山下 良之吉川 英樹知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:35:02 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:42:31 +0900