HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Bias dependent electronic states in gate stack structures: HXPES under device operation)山下 良之, 吉川 英樹, 知京 豊裕, 生田目 俊秀, 小林 啓介. International Conference on Electron Spectroscopy and Structure. 2012.NIMS著者山下 良之吉川 英樹知京 豊裕生田目 俊秀Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:00:38 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:27:20 +0900