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著者名YAMASHITA, Yoshiyuki, YOSHIKAWA, Hideki, CHIKYOW, Toyohiro, NABATAME, Toshihide, KOBAYASHI, Keisuke.
タイトルBias dependent electronic states in gate stack structures: HXPES under device operation
会議名International Conference on Electron Spectroscopy and Structure
発表年2012
言語English
外部での文献参照

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