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著者名山下 良之, 蓮沼 隆, 長田 貴弘, 知京 豊裕.
タイトルオペランド光電子分光法によるSiO2/SiC界面準位のエネルギー分布観測
(Interface states at SiO2/SiC interface obtained from operando photoelectron spectroscopy)
会議名第36回表面科学学術講演会・第57回真空に関する連合講演会
発表年2016
言語Japanese
外部での文献参照

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