HOME > 口頭発表 > 書誌詳細The influence of interface states on the CaF2/p-GaN metal-insulator-semiconductor capacitorsサン リウエン, 廖 梅勇, 角谷 正友, 小出 康夫. International Conference on Defects in Semiconductors(CDS) 2017. 2017.NIMS著者サン リウエン廖 梅勇角谷 正友小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-09-07 00:22:52 +0900 更新時刻 :2018-06-05 14:12:31 +0900