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The influence of interface states on the CaF2/p-GaN metal-insulator-semiconductor capacitors

International Conference on Defects in Semiconductors(CDS) 2017. 2017.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-09-07 00:22:52 +0900 更新時刻 :2018-06-05 14:12:31 +0900

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