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著者名岡田直也, 深田 直樹, 大島崇, 陳 君, 関口 隆史, 村上浩一.
タイトルレーザーアブレーション法により生成したBドープSiナノ細線のラマン散乱測定
(Raman scattering measurements of B-doped silicon nanowires synthesized by laser ablation)
会議名2006年春季第53回応用物理学関係連合講演会
発表年2006
言語Japanese
外部での文献参照

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