HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Siナノ細線への熱酸化応力誘起とフォノン閉じ込め効果(Introduction of stress and phonon confinement in thermally oxidized silicon nanowires)深田 直樹, 大島崇, 岡田直也, 松下聡, 鶴井隆雄, 陳 君, 関口 隆史, 村上浩一. 第127回結晶工学分科会研究会「IV族系半導体のひずみエンジニアリン. 2007. 招待講演NIMS著者深田 直樹陳 君Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:36:43 +0900更新時刻: 2024-03-05 11:41:26 +0900