STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化
(Direct visualization of N impurity state in GaAs using STM)
22nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy. 2014.
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-14 11:12:05 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:02:12 +0900