STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化
(Direct visualization of N impurity state in GaAs using STM)
22nd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy. 2014年12月11日-2014年12月13日.
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-14 11:12:05 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:02:12 +0900