HOME > 口頭発表 > 書誌詳細断面STMによるGaAs中窒素不純物の直接可視化(Direct visualization of the N impurity state in dilute GaNAs using cross-sectional scanning tunneling microscopy)石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. ISPlasma2016/IC-PLANTS2016. 2016.NIMS著者石田 暢之間野 高明野田 武司佐久間 芳樹藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 04:54:35 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:16:28 +0900