HOME > 口頭発表 > 書誌詳細STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化(Direct visualization of N impurity state in GaAs using STM)石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. The 7th International Symposium on Surface Science. 2014年11月02日-2014年11月06日.NIMS著者石田 暢之間野 高明野田 武司佐久間 芳樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 03:40:35 +0900 更新時刻: 2017-07-10 21:56:42 +0900