HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Intrinsic Effect of a Nitrogen Atom on Hf-based High-k Gate Dielectrics -A First Principles Study)梅澤 直人, 白石 賢二, 大野 隆央, 渡部 平司, 知京 豊裕, 鳥居和功, 山部 紀久夫, 山田 啓作, 北島洋, 有門経敏. American Physical Society March Meeting. 2005.NIMS著者知京 豊裕Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:04:01 +0900更新時刻: 2017-07-10 19:12:07 +0900