HOME > 口頭発表 > 書誌詳細XPSデータセットの自動解析によるGaN初期酸化過程解析のハイスループット化(High throughput analysis of the initial oxidation process of GaN u sing data sets and automated peak fitting)原田 善之, 角谷 正友, 篠塚 寛志, 登坂 弘明, 松波 成行, 田沼 繁夫, 吉川 英樹. 第81回応用物理学会秋季学術講演会. 2020年09月08日-2020年09月11日.NIMS著者角谷 正友篠塚 寛志吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2021-11-02 03:36:56 +0900更新時刻: 2021-11-02 03:36:56 +0900