Lattice-plane orientation mapping of 2-inch homo-epitaxial GaN (0001) thin films by grazing incident x-ray diffraction topography
IWN 2018. 2018年11月11日-2018年11月16日.
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作成時刻: 2018-09-13 16:35:05 +0900更新時刻: 2018-09-13 16:35:05 +0900