HOME > 口頭発表 > 書誌詳細STMによるGaAs中N不純物準位の直接可視化(Direct visualization of N impurity state in GaAs using STM)石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. 第75回応用物理学会秋季学術講演会. 2014年09月17日-2014年09月20日.NIMS著者石田 暢之間野 高明野田 武司佐久間 芳樹藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-01-08 05:23:06 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:55:17 +0900