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著者名NAGATA, Takahiro, UEDA, Shigenori, MATSUDA, Asahiko, YAMASHITA, Yoshiyuki, CHIKYOW, Toyohiro.
タイトルStudy on interface structure of CeF3/Ge stack structure by hard x-ray photoelectron spectroscopy
会議名7th International Conference on Hard X-Ray Photoelectron Spectro
発表年2017
言語English
外部での文献参照

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