SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

Investigation on the trap states at p-GaN MO(I)S interface with different gate dielectric layers

著者SANG, Liwen, 任 兵, LIAO, Meiyong, KOIDE, Yasuo, SUMIYA, Masatomo.
会議名応用物理学会
発表年2018
言語English

▲ページトップへ移動