HOME > 口頭発表 > 書誌詳細断面STMによるGaAs中窒素不純物の直接可視化(Direct visualization of the N impurity state in dilute GaNAs using scanning tunneling microscopy)石田 暢之, 定昌史, 間野 高明, 野田 武司, 佐久間 芳樹, 藤田 大介. IVC20 第20回 国際真空学術会議・展示会. 2016年08月21日-2016年08月26日.NIMS著者石田 暢之間野 高明野田 武司佐久間 芳樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:51:27 +0900 更新時刻: 2017-07-10 22:21:32 +0900