SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 詳細

BIC自動ピークフィッティング技術を用いたXPSデータセットのハイスループット解析手法
(High Throughput Analysis Method for XPS Data Sets Using BIC Auto Peak Fitting Technique.)

著者永田 賢二, 角谷 正友, 田沼 繁夫, 篠塚 寛志, 登坂 弘明, 原田 善之, 松波 成行, 吉川 英樹, 庄野逸, 村上諒.
会議名2020年度 実用表面分析講演会 Symposium on Practical Surface Analysis 2020 (PSA-20)
発表年2020
言語Japanese

▲ページトップへ移動