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機械学習を用いた光電子収量分光(PYS)の閾値予測の測定データを用いた検証
(Validation with Measured Data of Photoelectron Yield Spectroscopy (PYS) Threshold Using Machine Learning)

著者柳生 進二郎, 吉武 道子, 知京 豊裕, 長田 貴弘.
掲載誌名表面と真空 62 [8] 504-510
ISSN: 24335843, 24335835
出版社公益社団法人 日本表面真空学会
発表年2019
言語Japanese
DOIhttps://doi.org/10.1380/vss.62.504
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