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著者名Raman Bekarevich, Kazutaka Mitsuishi, Tsuyoshi Ohnishi, Fumihiko Uesugi, Masaki Takeguchi, Yoshiyuki Inaguma, Takahisa Ohno, Kazunori Takada.
タイトルTwo-dimensional Gaussian fitting for precise measurement of lattice constant deviation from a selected-area diffraction map
掲載誌名Microscopy 67 suppl_1 i142 i149
ISSN: 20505701 20505698
発表年2018
言語English
DOI10.1093/jmicro/dfx121
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