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Two-dimensional Gaussian fitting for precise measurement of lattice constant deviation from a selected-area diffraction map

Microscopy 67 [suppl_1] i142-i149. 2018.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-12-20 20:50:30 +0900 更新時刻 :2020-11-16 22:51:04 +0900

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