SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

Chemical and Electronic Investigation of Buried NiO1−δ, PCBM, and PTAA/MAPbI3–xClx Interfaces Using Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy and Transmission Electron Microscopy
(Ｘ線光電子分光法と透過電子顕微鏡によるペロブスカイトとNiO、PCBM及びPTAAそれぞれからなる界面の化学的及び電気的視点の研究)

Ibrahima Gueye, Yasuhiro Shirai, Dhruba B. Khadka, Okkyun Seo, Satoshi Hiroi, Masatoshi Yanagida, Kenjiro Miyano, Osami Sakata.
ACS Applied Materials & Interfaces 13 [42] 50481-50490. 2021.
https://doi.org/10.1021/acsami.1c11215
Open Access 出版者 (Publisher)

NIMS著者

Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット

    作成時刻: 2021-12-23 15:42:43 +0900更新時刻: 2025-03-18 04:36:12 +0900

    ▲ページトップへ移動