Chemical and Electronic Investigation of Buried NiO1−δ, PCBM, and PTAA/MAPbI3–xClx Interfaces Using Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy and Transmission Electron Microscopy
(Ｘ線光電子分光法と透過電子顕微鏡によるペロブスカイトとNiO、PCBM及びPTAAそれぞれからなる界面の化学的及び電気的視点の研究)

著者	Ibrahima Gueye, Yasuhiro Shirai, Dhruba B. Khadka, Okkyun Seo, Satoshi Hiroi, Masatoshi Yanagida, Kenjiro Miyano, Osami Sakata.
掲載誌名	ACS Applied Materials & Interfaces 13 [42] 50481-50490 ISSN: 19448244, 19448252 ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE
出版社
発表年	2021
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1021/acsami.1c11215
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