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Chemical and Electronic Investigation of Buried NiO1−δ, PCBM, and PTAA/MAPbI3–xClx Interfaces Using Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy and Transmission Electron Microscopy
(X線光電子分光法と透過電子顕微鏡によるペロブスカイトとNiO、PCBM及びPTAAそれぞれからなる界面の化学的及び電気的視点の研究)

著者Ibrahima Gueye, Yasuhiro Shirai, Dhruba B. Khadka, Okkyun Seo, Satoshi Hiroi, Masatoshi Yanagida, Kenjiro Miyano, Osami Sakata.
掲載誌名ACS Applied Materials & Interfaces 13 [42] 50481-50490
ISSN: 19448244, 19448252
ESIでのカテゴリ: MATERIALS SCIENCE
出版社
発表年2021
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1021/acsami.1c11215
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