SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 詳細

論文の表示

著者名Efi Dwi Indari, Yoshiyuki Yamashita, Ryu Hasunuma, Takahiro Nagata, Shigenori Ueda, Kikuo Yamabe.
タイトルRelationship between band-offset, gate leakage current, and interface states density at SiO2/4H-SiC (000-1) interface
掲載誌名AIP Advances 9 [4] 045002
ISSN: 21583226
発表年2019
言語English
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1063/1.5088541
この文献をMendeleyにインポートMendeley

▲ページトップへ移動