HOME > 論文 > 書誌詳細Active voltage contrast imaging of cross-sectional surface of multilayer ceramic capacitor using helium ion microscopy(ヘリウムイオン顕微鏡を用いた積層型セラミックコンデンサ断面のアクティブ電圧コントラストの画像化)C. Sakai, N. Ishida, H. Masuda, S. Nagano, M. Kitahara, Y. Ogata, D. Fujita. Applied Physics Letters 109 [5] 051603. 2016.https://doi.org/10.1063/1.4960524 NIMS著者石田 暢之永野 聖子藤田 大介Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2016-10-26 15:42:27 +0900更新時刻: 2024-04-01 20:55:56 +0900