HOME > 論文 > 書誌詳細デバイス動作下硬X線光電子分光法による最先端材料の物性解明(Bias-application in hard x-ray photoelectronic study for advanced materials)山下 良之, 長田 貴弘, 吉川 英樹, 知京 豊祐, 小林 啓介. 表面科学 32 [6] 320-324. 2011.https://doi.org/10.1380/jsssj.32.320 NIMS著者山下 良之長田 貴弘吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2016-05-24 16:25:15 +0900 更新時刻 :2019-10-27 01:24:01 +0900