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著者名山下 良之, 長田 貴弘, 吉川 英樹, 知京 豊祐, 小林 啓介.
タイトルデバイス動作下硬X線光電子分光法による最先端材料の物性解明
(Bias-application in Hard X-ray Photoelectronic Study for Advanced Materials)
掲載誌名表面科学 32 [6] 320-324
ISSN: 18814743 03885321
発表年2011
言語Japanese
ESIでのカテゴリ
DOIhttps://doi.org/10.1380/jsssj.32.320
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