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デバイス動作下硬X線光電子分光法による最先端材料の物性解明
(Bias-application in hard x-ray photoelectronic study for advanced materials)

山下 良之, 長田 貴弘, 吉川 英樹, 知京 豊祐, 小林 啓介.
表面科学 32 [6] 320-324. 2011.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2016-05-24 16:25:15 +0900 更新時刻 :2019-10-27 01:24:01 +0900

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