SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 論文 > 書誌詳細

Characterization of a 4-inch GaN wafer by X-ray diffraction topography

CrystEngComm 20 [48] 7761-7765. 2018.
Open Access Royal Society of Chemistry (RSC) (Publisher)

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2019-03-01 11:45:26 +0900 更新時刻 :2021-03-08 20:11:01 +0900

    ▲ページトップへ移動