T. Nagata; S. Oh; Y. Yamashita; H. Yoshikawa; R. Hayakawa; K. Kobayashi; T. Chikyow; Y. Wakayama

doi:10.1063/1.4762834

Hard x-ray photoelectron spectroscopy study on band alignment at poly(3,4-ethylenedioxythiophene):poly(styrenesulfonate)/ZnO interface

著者	T. Nagata, S. Oh, Y. Yamashita, H. Yoshikawa, R. Hayakawa, K. Kobayashi, T. Chikyow, Y. Wakayama.
掲載誌名	Applied Physics Letters 101 [17] 173303 ISSN: 00036951, 10773118 ESIでのカテゴリ: PHYSICS
出版社	AIP Publishing
発表年	2012
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1063/1.4762834
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