Threshold Voltage Instability of Diamond Metal–Oxide–Semiconductor Field‐Effect Transistors Based on 2D Hole Gas

著者	Mingchao Yang, Liwen Sang, Meiyong Liao, Masataka Imura, Hongdong Li, Yasuo Koide.
掲載誌名	physica status solidi (a) 216 [24] 1900538 ISSN: 18626319, 18626300, 00318965 ESIでのカテゴリ: PHYSICS
出版社	Wiley
発表年	2019
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1002/pssa.201900538
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