Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope

著者	Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D’Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo.
発表誌名	Proceedings Microscopy & Microanalysis 2014
発表年	2014
言語	English
DOI	https://doi.org/10.1017/s1431927614003602
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公開範囲	インターネット公開
作成時刻 / 更新時刻	2017-02-27 02:34:29 +0900 / 2017-03-17 04:47:06 +0900