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Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope

著者Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D’Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo.
発表誌名Proceedings Microscopy & Microanalysis 2014
発表年2014
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1017/s1431927614003602
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公開範囲 インターネット公開
作成時刻 / 更新時刻2017-02-27 02:34:29 +0900 / 2017-03-17 04:47:06 +0900

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