Atomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope
著者 | Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D’Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo. |
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発表誌名 | Proceedings Microscopy & Microanalysis 2014 |
発表年 | 2014 |
言語 | English |
DOI | https://doi.org/10.1017/s1431927614003602 |
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公開範囲 | インターネット公開 |
作成時刻 / 更新時刻 | 2017-02-27 02:34:29 +0900 / 2017-03-17 04:47:06 +0900 |