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著者名Peng Wang, Angus I. Kirkland, Peter D. Nellist, Adrian J. D’Alfonso, Andrew J. Morgan, Leslie J. Allen, Ayako Hashimoto, Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Masayuki Shimojo.
タイトルAtomically Resolved Scanning Confocal Electron Microscopy Using a Double Aberration-corrected Transmission Electron Microscope
発表誌名Proceedings Microscopy & Microanalysis 2014
発表年2014
言語English
DOIhttps://doi.org/10.1017/s1431927614003602

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