Valence band structure of III-V nitride films characterized by hard X-ray photoelectron spectroscopy
(硬ｘ線光電子分光によるIII-V族窒化物薄膜の価電子帯構造評価)
NIMS著者
Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット
作成時刻: 2017-02-27 01:45:06 +0900更新時刻: 2024-04-01 23:11:16 +0900