Valence band structure of III-V nitride films characterized by hard X-ray photoelectron spectroscopy
(硬ｘ線光電子分光によるIII-V族窒化物薄膜の価電子帯構造評価)
NIMS著者
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作成時刻: 2017-02-27 01:45:06 +0900更新時刻: 2024-12-12 05:46:20 +0900