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著者名陳 君, イ ウェイ, 木村 隆, 生田目 俊秀, 関口 隆史.
タイトルWafer-Scale Analysis of GaN by Imaging CL Technique
会議名The International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN2018)
発表年2018
言語English
外部での文献参照

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