HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Electronic structure in zinc oxide studied by X-ray photoemission大橋 直樹, 坂口 勲, 安達 裕, 上田 茂典, 吉川 英樹, 小林 啓介, 松本 研司, 山下 良之, 羽田 肇. STAC-3. 2009年06月16日-2009年06月18日.NIMS著者大橋 直樹坂口 勲安達 裕上田 茂典吉川 英樹山下 良之羽田 肇Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:40:37 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:29:02 +0900