HOME > 口頭発表 > 書誌詳細負けCuイオン照射中に発生する発光強度の線量依存性(Relation of emitted light intensity with current density in negative Cu ion implantation)Thi Thi Lay, 雨倉 宏, 梅田直樹, 武田 良彦, 岸本 直樹, Thi Thi Lay, 梅田直樹. 1999秋季第60回応用物理学会学術講演会. 1999年09月01日-1999年09月04日.NIMS著者雨倉 宏武田 良彦Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 01:45:52 +0900 更新時刻: 2017-07-10 17:57:54 +0900