HOME > 口頭発表 > 書誌詳細(Delamination study on REBCO conductors due to screening current)マ ドンシャ, 張 治宇, 松本 真治, Ryo Teranishi, 大村 孝仁, 木吉 司. ISS 2013. 2013年11月18日-2013年11月20日.NIMS著者松本 真治大村 孝仁Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:15:17 +0900更新時刻: 2017-07-10 21:44:26 +0900