HOME > 口頭発表 > 書誌詳細放射光硬X線光電子分光によるInN/GaN界面バンド構造の決定(Determination of band structures of InN/GaN interfaces by synchrotron radiation hard X-ray photoemission spectroscopy)豊島安志, 堀場弘司, 太田実雄, 藤岡洋, 尾嶋正治, 三木久幸, 上田 茂典, 山下 良之, 吉川 英樹, 小林 啓介. 春季第55回応用物理学会. 2008年03月27日-2008年03月30日.NIMS著者上田 茂典山下 良之吉川 英樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:24:44 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:09:43 +0900