HOME > 口頭発表 > 書誌詳細シリコン中の水素の深さ濃度分布と局所振動モードの関係(Relationship between depth profiles and localized vibrational modes of hydrogen in silicon)福田真也, 森俊樹, 森澤邦友, 石岡 邦江, 北島 正弘, 坂口 勲, 菱田 俊一, 村上浩一. 2002秋季第63回応用物理学会学術講演会. 2002.NIMS著者石岡 邦江坂口 勲菱田 俊一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-18 02:43:38 +0900更新時刻: 2018-05-30 18:54:12 +0900