SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

金属酸化物半導体薄膜結晶化プロセスのその場SEM観察
(In situ SEM observation of metal oxide semiconductor film in crystallization process)

第26回電子顕微鏡大学. 2016年07月07日-2016年07月08日.

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻: 2017-01-08 04:43:51 +0900更新時刻: 2017-07-10 22:22:03 +0900

    ▲ページトップへ移動