HOME > 口頭発表 > 書誌詳細Microstructure of Boron-doped AlN Epitaxial Layer Grown by Metal-Organic Vapor Phase Epitaxy井村 将隆, 太田優一, バナル ガニパン ライアン, 小出 康夫. 29th International Conference on Defects in Semiconductors. 2017年07月30日-2017年08月04日.NIMS著者井村 将隆小出 康夫Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-12-27 22:06:24 +0900更新時刻: 2018-06-05 14:07:54 +0900