HOME > 口頭発表 > 書誌詳細バッファーレイヤーの欠陥構造と酸化物薄膜の結晶性との相関(Relationship between crystalinity and buffer layer defect structure in thin films)羽田 肇, 安達 裕, 坂口 勲, 大橋直樹, 菱田俊一, 大橋直樹, 菱田俊一. 2001年電気化学秋季大会. 2001年09月20日-2001年09月21日. 招待講演NIMS著者安達 裕坂口 勲大橋 直樹Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 11:34:38 +0900 更新時刻: 2024-03-05 11:39:23 +0900