HOME > 口頭発表 > 書誌詳細バッファーレイヤーの欠陥構造と酸化物薄膜の結晶性との相関(Relationship between crystalinity and buffer layer defect structure in thin films)羽田 肇, 安達 裕, 坂口 勲, 大橋直樹, 菱田俊一, 大橋直樹, 菱田俊一. 2001年電気化学秋季大会. 2001. 招待講演NIMS著者羽田 肇安達 裕坂口 勲大橋 直樹菱田 俊一Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻 :2017-02-14 11:34:38 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:39:23 +0900