SAMURAI - NIMS Researchers Database

HOME > 口頭発表 > 書誌詳細

バッファーレイヤーの欠陥構造と酸化物薄膜の結晶性との相関
(Relationship between crystalinity and buffer layer defect structure in thin films)

羽田 肇, 安達 裕, 坂口 勲, 大橋直樹, 菱田俊一, 大橋直樹, 菱田俊一.
2001年電気化学秋季大会. 2001. 招待講演

NIMS著者


Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット


    作成時刻 :2017-02-14 11:34:38 +0900 更新時刻 :2024-03-05 11:39:23 +0900

    ▲ページトップへ移動