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著者名白石 賢二, 梅澤 直人, Maruo Boero, 鳥居和功, 赤坂泰志, 渡部 平司, 山部 紀久夫, 知京 豊裕, 大野 隆央, 北島洋, 有門経敏, 山田 啓作, 奈良安雄.
タイトルHigh-k 絶縁膜中の欠陥とトランジスタ特性の関係の理論的研究
(Theoretical investigations on the relationship between FET characteristics and defects in high-k gate dielectrics.)
会議名シンポジウム「来るべきナノCMOS 時代に向けての挑戦とその課題」
発表年2005
言語Japanese
外部での文献参照

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