HOME > 口頭発表 > 書誌詳細硬X線光電子分光によるInN バルク評価(Evaluation of InN bulk by hard X-ray photoemission spectroscopy)金子 昌充, 山口 智広, 井村 将隆, 山下 良之, 名西憓之. 2010年春季 第57回 応用物理学関係連合講演会. 2010.NIMS著者井村 将隆山下 良之Materials Data Repository (MDR)上の本文・データセット作成時刻: 2017-02-14 10:57:25 +0900更新時刻: 2017-07-10 20:42:33 +0900