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著者名金子 昌充, 山口 智広, 井村 将隆, 山下 良之, 名西憓之.
タイトル硬X線光電子分光によるInN バルク評価
(Evaluation of InN bulk by hard X-ray photoemission spectroscopy)
会議名2010年春季 第57回 応用物理学関係連合講演会
発表年2010
言語Japanese
外部での文献参照

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